Tiedosto:Subwavelength slits.JPG
Siirry navigaatioon
Siirry hakuun
Tämän esikatselun koko: 800 × 600 kuvapistettä. Muut resoluutiot: 320 × 240 kuvapistettä | 640 × 480 kuvapistettä | 1 024 × 768 kuvapistettä | 1 280 × 960 kuvapistettä | 2 272 × 1 704 kuvapistettä.
Alkuperäinen tiedosto (2 272 × 1 704 kuvapistettä, 876 KiB, MIME-tyyppi: image/jpeg)
|
Tämä tiedosto on tiedostotietokanta Wikimedia Commonsista. Tiedot kuvaussivulta näkyvät alla. |  |
Tiedoston kuvaussivu Commonsissa |
Yhteenveto
| Kuvaus | Picture of an interference pattern of subwavelength width double slits |
| Päiväys | |
| Lähde | Oma teos |
| Tekijä | Bryan Tong Minh |
| Käyttöoikeus (Tämän tiedoston uudelleenkäyttö) |
PD-Self |
Interference pattern of a 632.8 nm HeNe laser through a double slit of 200 nm width a distance of approx. 20 micron between them.
Lisenssi
|
Minä, tämän teoksen tekijänoikeudellinen omistaja, julkaisen tämän teoksen public domainiin eli luovun kaikista tekijänoikeuksista lain sallimissa puitteissa. Tämä on voimassa maailmanlaajuisesti. Joissain maissa laki ei mahdollista tätä. Mikäli näin on: Myönnän kenelle tahansa oikeuden käyttää tätä teosta mihin tahansa tarkoitukseen, ilman mitään ehtoja, ellei laki vaadi ehtojen asettamista. |
Tiedoston historia
Päiväystä napsauttamalla näet, millainen tiedosto oli kyseisellä hetkellä.
| Päiväys | Pienoiskuva | Koko | Käyttäjä | Kommentti | |
|---|---|---|---|---|---|
| nykyinen | 2. marraskuuta 2006 kello 19.50 | | 2 272 × 1 704 (876 KiB) | Bryan | {{Information |Description=Picture of an interference pattern of ''subwavelength width double slits'' |Source=Own work |Date=25 August 2005 |Author=Bryan Tong Minh |Permission=PD-Self |other_versions= }} |
Tiedoston käyttö
Seuraava sivu käyttää tätä tiedostoa:
Tiedoston järjestelmänlaajuinen käyttö
Seuraavat muut wikit käyttävät tätä tiedostoa:
- Käyttö sivustolla en.wikipedia.org
- Käyttö sivustolla es.wikipedia.org
- Käyttö sivustolla it.wikipedia.org
